2.5D / 3D手機(jī)玻璃
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≤ 2.3s/pc
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 2.5% | 過(guò)殺 ≤ 10%
缺陷類型:臟污、毛發(fā)、塵點(diǎn)、劃傷、崩邊、凹凸點(diǎn)、深劃......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
金屬化陶瓷
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≤ 100ms/pc
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.3% | 過(guò)殺 ≤ 1%
缺陷類型:劃傷、崩邊、臟污、開裂、劃痕、缺失......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
金屬零件
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≤ 500ms/pc
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 5%
缺陷類型:臟污、亮印、劃傷、點(diǎn)傷、模印、刀紋、缺口......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
鋼板檢測(cè)
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≥120pcs/min
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 5%
缺陷類型:毛刺、劃傷、碰傷......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
工業(yè)字符識(shí)別
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≤ 120ms/pc
檢測(cè)結(jié)果:準(zhǔn)確率 ≥ 99.99%
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
成品果凍
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≥100pcs/min
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.2% | 過(guò)殺 ≤ 5%
缺陷類型:毛發(fā)、果肉蟲、黑渣、氣泡、鐵屑......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
面餅檢測(cè)
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≥235pcs/min
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 1% | 過(guò)殺 ≤ 1%
缺陷類型:焦黃、異物、毛發(fā)、臟黑......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
藥板檢測(cè)
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≥500pcs/min
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.001% | 過(guò)殺 ≤ 0.001%
缺陷類型:變形、泡罩異物、撕裂線位置錯(cuò)誤、密封不實(shí)......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
藥盒包裝
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≥500pcs/min
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.001% | 過(guò)殺 ≤ 0.001%
缺陷類型:破損、臟污、藥盒打開、變形、封口標(biāo)簽卷邊......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
藥板藥盒OCR檢測(cè)
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≥500pcs/min
檢測(cè)結(jié)果:準(zhǔn)確率 ≥ 99.99%
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
電子元器件
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≤ 2ms/pc
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.01% | 過(guò)殺 ≤ 1%
缺陷類型:漏磁、氣泡、端頭開裂、變形、黑片、龜裂、月牙、沙眼、壓痕......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
軟包動(dòng)力電池
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≤ 5s/pc
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1%(嚴(yán)重缺陷0漏檢) | 過(guò)殺 ≤ 5%
缺陷類型:極片翻折、破損漏夜、封邊異物、凸點(diǎn)、針孔......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
濕壓磁瓦
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≥80pcs/min
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 15%
缺陷類型:裂紋、崩缺、氣孔、研磨不良、倒角不良......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
干壓磁瓦
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≥120pcs/min
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 10%
缺陷類型:裂紋、崩缺、沙眼......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
鐵氧體磁環(huán)
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≥120pcs/min
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 10%
缺陷類型:裂紋、崩缺、堵孔、毛刺......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
燒結(jié)磁鐵
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≥100pcs/min
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 10%
缺陷類型:裂紋、掉角、麻點(diǎn)、刀紋、孔洞、夾雜、腐蝕.....
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
軟磁磁芯
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≥200pcs/min
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 10%
缺陷類型:開裂、掉角、晶斑、粘膜、流漿、磨斜......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果
粘結(jié)磁環(huán)
表面瑕疵檢測(cè)
識(shí)別速度:≥100pcs/min
檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.05% | 過(guò)殺 ≤ 10%
缺陷類型:裂紋、缺損、麻點(diǎn)、漏磁、凹坑、異物......
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原圖
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檢測(cè)結(jié)果